PDF《S-5712A/B/C系列》

1 N沟道开路漏极输出产品 表2 产品名 驱动周期 (tCYCLE) 输出方式 极性检测 输出逻辑 磁性灵敏度 (BOP) S-5712ANDL0-M3T1U 50.50 ms (典型值) N沟道开路漏极输出 检测两极 动态 L 1.8 mT (典型值) S-5712ANDL1-M3T1U 50.50 ms (典型值) N沟道开路漏极输出 检测两极 动态 L 3.0 mT (典型值) S-5712ANDL2-M3T1U 50.50 ms (典型值) N沟道开路漏极输出 检测两极 动态 L 4.5 mT (典型值) S-5712ANSL1-M3T1U 50.85 ms (典型值) N沟道开路漏极输出 检测S极 动态 L 3.0 mT (典型值) S-5712ANSL2-M3T1U 50.85 ms (典型值) N沟道开路漏极输出 检测S极 动态 L 4.5 mT (典型值) S-5712ANSH1-M3T1U 50.85 ms (典型值) N沟道开路漏极输出 检测S极 动态 H 3.0 mT (典型值) S-5712BNDL2-M3T1U 204.10 ms (典型值) N沟道开路漏极输出 检测两极 动态 L 4.5 mT (典型值) S-5712BNDH2-M3T1U 204.10 ms (典型值) N沟道开路漏极输出 检测两极 动态 H 4.5 mT (典型值) 备注 如果需要除上述以外的产品时,请向本公司营业部咨询. 3. 1.

2 CMOS输出产品 表3 产品名 驱动周期 (tCYCLE) 输出方式 极性检测 输出逻辑 磁性灵敏度 (BOP) S-5712ACDL1-M3T1U 50.50 ms (典型值) CMOS输出 检测两极 动态 L 3.0 mT (典型值) S-5712ACDL2-M3T1U 50.50 ms (典型值) CMOS输出 检测两极 动态 L 4.5 mT (典型值) S-5712ACDH1-M3T1U 50.50 ms (典型值) CMOS输出 检测两极 动态 H 3.0 mT (典型值) S-5712ACDH2-M3T1U 50.50 ms (典型值) CMOS输出 检测两极 动态 H 4.5 mT (典型值) S-5712ACSL1-M3T1U 50.85 ms (典型值) CMOS输出 检测S极 动态 L 3.0 mT (典型值) S-5712ACSL2-M3T1U 50.85 ms (典型值) CMOS输出 检测S极 动态 L 4.5 mT (典型值) S-5712ACNL1-M3T1U 50.85 ms (典型值) CMOS输出 检测N极 动态 L 3.0 mT (典型值) S-5712ACNL2-M3T1U 50.85 ms (典型值) CMOS输出 检测N极 动态 L 4.5 mT (典型值) S-5712CCDL1-M3T1U 5.70 ms (典型值) CMOS输出 检测两极 动态 L 3.0 mT (典型值) S-5712CCSL1-M3T1U 6.05 ms (典型值) CMOS输出 检测S极 动态 L 3.0 mT (典型值) 备注 如果需要除上述以外的产品时,请向本公司营业部咨询. 低电压工作 两极 / 单极检测型 霍尔效应开关IC Rev. 5.1_01 S-5712A/B/C系列

5 3.

2 SNT-4A 3. 2.

1 N沟道开路漏极输出产品 表4 产品名 驱动周期 (tCYCLE) 输出方式 极性检测 输出逻辑 磁性灵敏度 (BOP) S-5712ANDL0-I4T1U 50.50 ms (典型值) N沟道开路漏极输出 检测两极 动态 L 1.8 mT (典型值) S-5712ANDL1-I4T1U 50.50 ms (典型值) N沟道开路漏极输出 检测两极 动态 L 3.0 mT (典型值) S-5712ANDL2-I4T1U 50.50 ms (典型值) N沟道开路漏极输出 检测两极 动态 L 4.5 mT (典型值) S-5712ANSL1-I4T1U 50.85 ms (典型值) N沟道开路漏极输出 检测S极 动态 L 3.0 mT (典型值) S-5712ANSL2-I4T1U 50.85 ms (典型值) N沟道开路漏极输出 检测S极 动态 L 4.5 mT (典型值) S-5712BNDL2-I4T1U 204.10 ms (典型值) N沟道开路漏极输出 检测两极 动态 L 4.5 mT (典型值) S-5712BNDH2-I4T1U 204.10 ms (典型值) N沟道开路漏极输出 检测两极 动态 H 4.5 mT (典型值) 备注 如果需要除上述以外的产品时,请向本公司营业部咨询. 3. 2.

2 CMOS输出产品 表5 产品名 驱动周期 (tCYCLE) 输出方式 极性检测 输出逻辑 磁性灵敏度 (BOP) S-5712ACDL0-I4T1U 50.50 ms (典型值) CMOS输出 检测两极 动态 L 1.8 mT (典型值) S-5712ACDL1-I4T1U 50.50 ms (典型值) CMOS输出 检测两极 动态 L 3.0 mT (典型值) S-5712ACDL2-I4T1U 50.50 ms (典型值) CMOS输出 检测两极 动态 L 4.5 mT (典型值) S-5712ACDL3-I4T1U 50.50 ms (典型值) CMOS输出 检测两极 动态 L 7.0 mT (典型值) S-5712ACDH1-I4T1U 50.50 ms (典型值) CMOS输出 检测两极 动态 H 3.0 mT (典型值) S-5712ACDH2-I4T1U 50.50 ms (典型值) CMOS输出 检测两极 动态 H 4.5 mT (典型值) S-5712ACSL1-I4T1U 50.85 ms (典型值) CMOS输出 检测S极 动态 L 3.0 mT (典型值) S-5712ACSL2-I4T1U 50.85 ms (典型值) CMOS输出 检测S极 动态 L 4.5 mT (典型值) S-5712ACSH1-I4T1U 50.85 ms (典型值) CMOS输出 检测S极 动态 H 3.0 mT (典型值) S-5712ACSH2-I4T1U 50.85 ms (典型值) CMOS输出 检测S极 动态 H 4.5 mT (典型值) S-5712ACNL1-I4T1U 50.85 ms (典型值) CMOS输出 检测N极 动态 L 3.0 mT (典型值) S-5712ACNL2-I4T1U 50.85 ms (典型值) CMOS输出 检测N极 动态 L 4.5 mT (典型值) S-5712ACNL3-I4T1U 50.85 ms (典型值) CMOS输出 检测N极 动态 L 7.0 mT (典型值) S-5712ACNH1-I4T1U 50.85 ms (典型值) CMOS输出 检测N极 动态 H 3.0 mT (典型值) S-5712BCDL1-I4T1U 204.10 ms (典型值) CMOS输出 检测两极 动态 L 3.0 mT (典型值) S-5712BCDL2-I4T1U 204.10 ms (典型值) CMOS输出 检测两极 动态 L 4.5 mT (典型值) S-5712BCDH1-I4T1U 204.10 ms (典型值) CMOS输出 检测两极 动态 H 3.0 mT (典型值) S-5712BCDH2-I4T1U 204.10 ms (典型值) CMOS输出 检测两极 动态 H 4.5 mT (典型值) S-5712BCSL2-I4T1U 204.05 ms (典型值) CMOS输出 检测S........