PDF《S-5724系列》

S-5724系列 www.

ablicinc.com 低电压工作 高速 交变检测型 霍尔IC ? ABLIC Inc., 2012-2013 Rev.1.2_02

1 S-5724系列是采用CMOS技术开发的可对应低电压工作,具有高灵敏度磁性,可进行高速检测、低消耗电流工作的高精度霍 尔IC. 它可通过检测磁束密度的强弱以及极性变化,使输出电压发生变化.通过与磁石的组合,可对各种设备的翻转进行检测. 由于采用小型的SOT-23-3或超小型的SNT-4A封装,因此可高密度安装. S-5724系列因具备高精度磁特性,故与磁石组合的工作偏差可变少. 注意 本产品是为了使用于家电设备、办公设备、通信设备等普通的电子设备上而设计的.考虑使用在汽车车载设备 (包括 车载音响、无匙车锁、发动机控制等) 和医疗设备用途上的客户,请务必事先与本公司的营业部门商谈. ? 特点 ? 极性检测 : 交变检测 ? 磁性检测逻辑*1 : 检测S极时VOUT = L 检测S极时VOUT = H ? 输出方式*1 : Nch开路漏极输出、CMOS输出 ? 磁性灵敏度 : BOP = 3.0 mT (典型值) ? 驱动周期 (消耗电流) *1 : tCYCLE =

50 ?s (IDD = 640.0 ?A) (典型值) tCYCLE = 1.25 ms (IDD = 26.0 ?A) (典型值) tCYCLE = 6.05 ms (IDD = 6.0 ?A) (典型值) ? 电源电压范围 : VDD = 1.6 V ~ 3.5 V ? 工作温度范围 : Ta = ?40°C ~ ?85°C ? 内置电源开 / 关控制电路 : 可延长电池的使用寿命 (仅限SNT-4A) ? 无铅 (Sn 100%)、无卤素 *1. 可以选项. ? 用途 ? 数码相机 ? 玩具、游戏机 ? 家用电器产品 ? 封装 ? SOT-23-3 ? SNT-4A 低电压工作 高速 交变检测型 霍尔IC S-5724系列 Rev.1.2_02

2 ? 框图 1. N沟道开路漏极输出产品 1.

1 没有电源开 / 关控制功能的产品 OUT VDD VSS *1 *1 休眠 / 唤醒电路 斩波 放大器 *1. 寄生二极管 图1 1.

2 有电源开 / 关控制功能的产品 (SNT-4A) OUT *1 休眠 / 唤醒电路 斩波 放大器 *1 电源开 / 关控制电路 *1 VSS CE *1 VDD *1. 寄生二极管 图2 低电压工作 高速 交变检测型 霍尔IC Rev.1.2_02 S-5724系列

3 2. CMOS输出产品 2.

1 没有电源开 / 关控制功能的产品 OUT VDD VSS *1 休眠 / 唤醒电路 斩波 放大器 *1 *1 *1. 寄生二极管 图3 2.

2 有电源开 / 关控制功能的产品 (SNT-4A) OUT *1 休眠 / 唤醒电路 斩波 放大器 *1 *1 电源开 / 关控制电路 *1 VSS CE *1 VDD *1. 寄生二极管 图4 低电压工作 高速 交变检测型 霍尔IC S-5724系列 Rev.1.2_02

4 ? 产品型号的构成 1. 产品名 S-5724 x x B x

1 - xxxx U 环保标记 U : 无铅 (Sn 100%)、无卤素 封装简称和IC的包装规格 *1 M3T1 : SOT-23-

3、卷带产品 I4T1 : SNT-4A、卷带产品 磁性灵敏度

1 : BOP = 3.0 mT (典型值) 磁性检测逻辑 L : 检测S极时VOUT = L H : 检测S极时VOUT = H 极性检测 B : 交变检测 输出方式 N : Nch开路漏极输出 C : CMOS输出 驱动周期 C : tCYCLE = 6.05 ms (典型值) (没有电源开 / 关控制功能) D : tCYCLE = 1.25 ms (典型值) (没有电源开 / 关控制功能) E : tCYCLE =

50 ?s (典型值) (没有电源开 / 关控制功能) H : tCYCLE = 6.05 ms (典型值) (有电源开 / 关控制功能, SNT-4A) I : tCYCLE = 1.25 ms (典型值) (有电源开 / 关控制功能, SNT-4A) J : tCYCLE =

50 ?s (典型值) (有电源开 / 关控制功能, SNT-4A) *1. 请参阅卷带图. 2. 封装 表1封装图纸号码 封装名 外形尺寸图 卷带图 带卷图 焊盘图 SOT-23-3 MP003-C-P-SD MP003-C-C-SD MP003-Z-R-SD ? SNT-4A PF004-A-P-SD PF004-A-C-SD PF004-A-R-SD PF004-A-L-SD 低电压工作 高速 交变检测型 霍尔IC Rev.1.2_02 S-5724系列

5 3. 产品名目录 3.

1 SOT-23-3 3. 1.

1 N沟道开路漏极输出产品 表2 产品名 驱动周期 (tCYCLE) 电源开 / 关 控制功能 输出方式 极性检测 磁性检测逻辑 磁性灵敏度 (BOP) S-5724CNBL1-M3T1U 6.05 ms (典型值) 没有 N沟道开路漏极输出 交变检测 检测S极时 VOUT = L 3.0 mT (典型值) S-5724DNBL1-M3T1U 1.25 ms (典型值) 没有 N沟道开路漏极输出 交变检测 检测S极时 VOUT = L 3.0 mT (典型值) S-5724ENBL1-M3T1U

50 ?s (典型值) 没有 N沟道开路漏极输出 交变检测 检测S极时 VOUT = L 3.0 mT (典型值) 备注 如果需要除上述以外的选项时,请向本公司营业部咨询. 3. 1.

2 CMOS输出产品 表3 产品名 驱动周期 (tCYCLE) 电源开 / 关 控制功能 输出方式 极性检测 磁性检测逻辑 磁性灵敏度 (BOP) S-5724CCBL1-M3T1U 6.05 ms (典型值) 没有 CMOS输出 交变检测 检测S极时 VOUT = L 3.0 mT (典型值) S-5724DCBL1-M3T1U 1.25 ms (典型值) 没有 CMOS输出 交变检测 检测S极时 VOUT = L 3.0 mT (典型值) S-5724ECBL1-M3T1U

50 ?s (典型值) 没有 CMOS输出 交变检测 检测S极时 VOUT = L 3.0 mT (典型值) 备注 如果需要除上述以外的选项时,请向本公司营业部咨询. 3.

2 SNT-4A 3. 2.

1 CMOS输出产品 表4 产品名 驱动周期 (tCYCLE) 电源开 / 关 控制功能 输出方式 极性检测 磁性检测逻辑 磁性灵敏度 (BOP) S-5724HCBL1-I4T1U 6.05 ms (典型值) 有CMOS输出 交变检测 检测S极时 VOUT = L 3.0 mT (典型值) S-5724HCBH1-I4T1U 6.05 ms (典型值) 有CMOS输出 交变检测 检测S极时 VOUT = H 3.0 mT (典型值) S-5724ICBL1-I4T1U 1.25 ms (典型值) 有CMOS输出 交变检测 检测S极时 VOUT = L 3.0 mT (典型值) S-5724ICBH1-I4T1U 1.25 ms (典型值) 有CMOS输出 交变检测 检测S极时 VOUT = H 3.0 mT (典型值) S-5724JCBL1-I4T1U

50 ?s (典型值) 有CMOS输出 交变检测 检测S极时 VOUT = L 3.0 mT (典型值) S-5724JCBH1-I4T1U

50 ?s (典型值) 有CMOS输出 交变检测 检测S极时 VOUT = H 3.0 mT (典型值) 备注 如果需要除上述以外的选项时,请向本公司营业部咨询. 低电压工作 高速 交变检测型 霍尔IC S-5724系列 Rev.1.2_02

6 ? 引脚排列图 1. SOT-23-3

2 3

1 Top view 图5 表5 引脚号 符号 描述

1 VSS GND端子

2 VDD 电源端子

3 OUT 输出端子 2. SNT-4A

4 3

2 1 Top view 图6 表6 引脚号 符号 描述

1 VDD 电源端子

2 VSS GND端子

3 CE 激活端子 H : 激活工作 L : 中断工作

4 OUT 输出端子 低电压工作 高速 交变检测型 霍尔IC Rev.1.2_02 S-5724系列

7 ? 绝对最大额定值 表7 (除特殊注明以外 : Ta = ?25°C) 项目 符号 绝对最大额定值 单位 电源电压 VDD VSS ? 0.3 ~ VSS ? 7.0 V 输入电压 VCE VSS ? 0.3 ~ VDD ? 0.3 V 输出电流 IOUT ?1.0 mA 输出电压 N沟道开路漏极输出产品 VOUT VSS ? 0.3 ~ VSS ? 7.0 V CMOS输出产品 VSS ? 0.3 ~ VDD ? 0.3 V 容许功耗 SOT-23-3 PD 430*1 mW SNT-4A 300*1 mW 工作环境温度 Topr ?40 ~ ?85 °C 保存温度 Tstg ?40 ~ ?125 °C *1. 基板安装时 [安装基板] (1) 基板尺寸 : 114.3 mm ? 76.2 mm ? t1.6 mm (2) 名称 : JEDEC STANDARD51-7 注意 绝对最大额定值是指无论在任何条件下都不能超过的额定值.万一超过此额定值,有可能造成产品劣化等 物理性损伤. 容许功耗 (P D ) [mW] 环境温度 (Ta) [?C]

0 50

100 150

0 400

600 200 SNT-4A SOT-23-3 图7 封装容许功耗 (基板安装时) 低电压工作 高速 交变检测型 霍尔IC S-5724系列 Rev.1.2_02

8 ? 电气特性 1. 没有电源开 / 关控制功能的产品 1.

1 S-5724CxBxx 表8 (除特殊注明以外 : Ta = ?25°C, VDD = 1.85 V, VSS =

0 V) 项目 符号 条件 最小值 典型值 最大值 单位 测定 电路 电源电压 VDD ? 1.60 1.85 3.50 V ? 消耗电流 IDD 平均值 ? 6.0 11.0 ?A

1 输出电压 VOUT N沟道开路漏极 输出产品 输出晶体管N沟道, IOUT = 0.5 mA ? ? 0.4 V

2 CMOS输出产品 输出晶体管N沟道, IOUT = 0.5 mA ? ? 0.4 V

2 输出晶体管P沟道, IOUT = ?0.5 mA VDD ? 0.4 ? ? V

3 泄漏电流 ILEAK N沟道开路漏极输出产品 输出晶体管N沟道,VOUT = 3.5 V ? ?

1 ?A

4 唤醒模式时间 tAW ? ? 0.05 ? ms ? 休眠模式时间 tSL ? ? 6.00 ? ms ? 驱动周期 tCYCLE tAW ? tSL ? 6.05 12.00 ms ? 1.

2 S-5724DxBxx 表9 (除特殊注明以外 : Ta = ?25°C, VDD = 1.85 V, VSS =

0 V) 项目 符号 条件 最小值 典型值 最大值 单位 测定 电路 电源电压 VDD ? 1.60 1.85 3.50 V ? 消耗电流 IDD 平均值 ? 26.0 45.0 ?A

1 输出电压 VOUT N沟道开路漏极 输出产品 输出晶体管N沟道, IOUT = 0.5 mA ? ? 0.4 V

2 CMOS输出产品 输出晶体管N沟道, IOUT = 0.5 mA ? ? ........