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. K 0是按照第 4.3 条在未经过衰减的宽射束中测量的空气比释动能率;

. K e是按照第 4.4 条在经过衰减的窄射束中测量的空气比释动能率;

. K c是根据图

1 测定的辐射源与检验物之间宽射束中心处的空气比释动能率;

. K oc是如图

1 所示的经限束系统后,同.Kc点离辐射源相同距离处测定的宽射 束外的空气比释动能率;

. K s是如图

1 所示的初始宽射束投影内、由光阑限制的辐射束外的空气比释动 能率;

. K 1s是同 . K s点离辐射源相同距离处测定的经衰减的宽射束空气比释动能率. 4.2 几何量 应该按照表

2 中的要求测定示出的几何量. 4.3 宽射束条件下的测量 4.3.1 在宽射束条件下,应该按照图

1 的要求进行测量. 4.3.2 在测量期间,空气比释动能率 . K oc 应不大于空气比释动能率 . K c 的5%,即: . K oc ≤ 0.05 * . K c 4.3.3 在测量期间,空气比释动能率 . K s应不大于空气比释动能率 . K 1s的1%,即: . K s ≤ 0.01 * . K 1s

5 表2应测定的几何量 衰减性能 符号 c a b A W 条文 F B 测测测测5.1 5.2 衰减比 测测累积因子 衰减当量 铅当量 非均匀性 δ δpb V 5.3 测5.4 测5.5 c 是对测量点 . K e 离辐射源的距离(见图 2)偏差的修正因子.按照下式测定c:

1500 + a c = ( )2

1550 a 是图

2 所示的窄射束中心从检验物的远侧平面到辐射探测器参考点的距离.a 应不小于截面 A 平方根的

10 倍;

b 是图

1 所示的宽射束中心从检验物的远侧平面到辐射探测器参考点的距离;

A 是图

2 所示的检验物远侧平面处窄射束的截面;

W 是辐射探测器的参考点与任何相邻物或墙壁之间的距离(见图

1 和图 2) . 4.4 窄束条件下的测量 4.4.1 在窄射束条件下,应该按照图

2 的要求进行测量. 4.4.2 在检验物的远侧,辐射束的直径应该为

20 mm±1 mm . 4.4.3 根据第 6.5.1 条测定均匀度时,在检验物远侧应该将窄射束限制到直径不大于

10 mm . 4.5 辐射探测器的位置 距离 W 应不小于

700 mm . 4.5.1 测定衰减比时, 应测量有和没有检验物条件下的空气比释动能率 . K 1和.K0. 从检验物 远侧平面到辐射探测器参考点的距离b应为

50 mm±1 mm(见图 1) . 4.5.2 在空气比释动能率 . K e的测量中,对于累积因子的测量,从检验物的远侧到辐射探测器 参考点的距离应不小于截面A平方根的

10 倍. 4.6 检验仪器 4.6.1 检验仪器的辐射探测器,在半球面上对射线入射方向的响应依赖性很小,应忽略不计. 4.6.2 辐射探测器测量管电压为

40 kV-400kV 的X射线时, 探测器对射线能量的响应依赖性 必须不超过±20%. 4.6.3 辐射探测器灵敏体积的直径和长度均应不超过

50 mm. 4.6.4 X 射线高压发生装置应满足实验管电压的要求, 其实验管电压的实际值不得低于规定实 验管电压的 90%. 4.6.5 标准铅片的化学纯度应为 99.99%,厚度精度为±0.01 mm.

6 4.6.6 过滤条件 用于管电压在 120kV (包括 120kV) 以下的 X 射线防护材料, 其实验管电压为 80~120kV, 总过滤为 2.5 mmAl.用于管电压在 120kV 以上的 X 射线防护材料,按最常用的管电压进行, 其总过滤按表

3 的规定. 表3标准化线质 X 线管电压 kV* 总过滤 mm Cu

30 0.05

50 0.05

80 0.15

100 0.25**

120 0.25**

150 0.7

200 1.2

250 1.8

300 2.5

400 3.5 *百分波纹率不超过 4%;

**可用 2.5 mmAl 代替 4.7 检验物 4.7.1 在宽射束测量条件下,检验物必须是受检材料板,其尺寸至少为