PDF《010-51658378》

(实际上选用随后探 伤将使用的探头) ? 探伤仪设置: (实际上选取随后探伤将使用的调整值) a. 抑制置于"0";

b. 范围置于"250mm";

? 将探头耦合在Z20-2试块上,调节增益,使来自Z20-2试 块平底孔的回波幅度达50%满刻度 ? 将探头耦合在DZ-1试块上,选择能够分得开的最短探测 的距离的?2横孔,并将孔的回波幅度调至大于50%满 刻度,如回波的前沿和始波的后沿相交的波谷低于10% 满刻度,则此最短距离即为盲区. 测试方法――盲区 www.ccndt.com 010-51658378 斜探头入射点 ? 目的:测定斜探头声束中心在入射面上的位置. ? 使用试块:1号标准试块(JB/T10063)或CSK-IB型试块;

6. 测试方法――斜探头入射点 www.ccndt.com 010-51658378 测试方法――斜探头入射点 ? 将探头耦合在试块上图6所示的位置,使声束朝向R100 mm的曲面,移动探头,使曲面回波幅度达到最大. ? 读出试块上R100 mm圆心标记线所对应的探头侧面刻 度,此刻度位置即斜探头的入射点. R100 探头 图6 www.ccndt.com www.ccndt.com 010-51658378 7.测试方法――斜探头折射角或K 值 斜探头折射角或K 值?目的:测定斜探头声束入射于探伤面时的折射 角?或斜探头的K 值( K = tg ? );

? 使用试块:1号标准试块(JB/T10063)(折射角) 或CSK-IB型( K 值)试块;

www.ccndt.com 010-51658378 ? 根据斜探头折射角? (或K 值)的不同标称值,将探头 耦合在试块上的不同位置(如图7);

a) 折射角为34°~66 °( K =1.0~1.5)时,探头放在图7a 的位置,使用?50mm孔的回波进行测量;

b) 折射角为60°~75 ° ( K =2.0~3.0)时,探头放在图7b 的位置,使用?50mm孔的回波进行测量;

c) 折射角为74°~80 °时,探头放在图7c的位置,使用 ?50mm孔的回波进行测量. 7.测试方法――斜探头折射角或K 值www.ccndt.com 010-51658378 探头 图7a 探头 图7b 7.测试方法――斜探头折射角或K 值www.ccndt.com www.ccndt.com www.ccndt.com 010-51658378 图7c ? 保持探头声束轴线与试块侧面平行,移动探 头,使曲面回波幅度达到最大. ? 读出探头入射点在试块侧面上对应的角度刻 度值( ?或K 值),此刻度值即为斜探头的 折射角( 或K 值) . 探头 7.测试方法――斜探头折射角或K 值www.ccndt.com www.ccndt.com 010-51658378 斜探头分辨力 ? 目的:检查超声探伤系统(斜探头)的分辨力. ? 使用试块:CSK-IB型试块;

8.测试方法――斜探头分辨力 www.ccndt.com 010-51658378 ? 根据斜探头的折射角? (或K 值)的不同标称值,将 探头耦合在试块上的不同位置(如图7a或图7ab);

? 移动探头,使来自?50mm 和?44mm 两个孔的回波 A、B幅度相等,并约为20%~30%满刻度,如图8中h1. ? 调节衰减器,使A、B两波峰间的波谷上升到原来波 峰高度,此时衰减器所调节的dB数即为以dB值表示的 超声探伤系统分辨力. 测试方法――斜探头分辨力 www.ccndt.com 010-51658378 测试方法――斜探头分辨力 A B h2 h1 图8 www.ccndt.com www.ccndt.com 010-51658378 斜探头灵敏度余量 ? 目的:检查超声探伤系统经过一段使用时期后灵敏度的变化 情况;

? 使用试块:1号标准试块(JB/T10063)(折射角)或CSK-IA型(K值)试块;

? 使用探头:2.5MHz 8∈9 K2.5斜探头;

(实际上选用随后探 伤将使用的探头) ? 探伤仪设置: (实际上选取随后探伤将使用的调整值) a. 抑制置于"0";

b. 范围置于"100mm";

9.测试方法――斜探头灵敏度余量 www.ccndt.com 010-51658378 ? 将探头表面擦净;